%0 Journal Article
%A 鲁文睿
%A 杨璐
%A 周怡琳
%T 尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索
%D 2020
%R 10.13190/j.jbupt.2019-170
%J 北京邮电大学学报
%P 11-18,31
%V 43
%N 3
%X 针对离散尘土颗粒与温度、湿度、电场强度交互作用的复杂条件下，难以有效建立电路板电化学迁移的失效物理模型的问题，通过温湿偏置加速实验，模拟不同积尘密度下电路板的电化学迁移失效，分析颗粒分布密度对电路板绝缘失效时间的作用特性.采用正交实验获取不同尘土颗粒密度、温度、湿度、电场条件下电路板绝缘失效的寿命数据.基于数据驱动的方法，探讨电路板在尘土颗粒污染下的电化学迁移失效寿命建模.对比了多项式回归、机器学习中的梯度提升回归树和随机森林3种方法在尘土分布密度的高低区间内的寿命预测效果.讨论了尘土颗粒污染下利用机器学习建立电路板电化学迁移失效寿命模型的有效性.
%U https://journal.bupt.edu.cn/CN/10.13190/j.jbupt.2019-170