TY  - 北京邮电大学学报
A1  - 李秀萍, 任正, 李南
T1  - 微带器件双端口测试的校准件设计
Y1  - 2013-08-09 00:00:00.0
JF  - 北京邮电大学学报
JO  - 北京邮电大学学报
SP  - 1
EP  - 5
VL  - 36
IS  - 5
UR  - {https://journal.bupt.edu.cn/CN/10.13190/j.jbupt.2013.05.001}
N1  - 10.13190/j.jbupt.2013.05.001
ER  -