TY  - 北京邮电大学学报
A1  - 杨天长, 崔浩亮, 牛少彰, 宋文
T1  - 基于细粒度污点跟踪策略的Android应用敏感信息泄露检测
Y1  - 2016-06-27 00:00:00.0
JF  - 北京邮电大学学报
JO  - 北京邮电大学学报
SP  - 16
EP  - 21
VL  - 39
IS  - 3
UR  - {https://journal.bupt.edu.cn/CN/10.13190/j.jbupt.2016.03.002}
N1  - 10.13190/j.jbupt.2016.03.002
ER  -